電子真空儲(chǔ)存柜，半導(dǎo)體真空存儲(chǔ)箱主要用于儲(chǔ)存光學(xué)零件、半導(dǎo)體元器件、金屬材料、精密機(jī)械、電子零件、化工產(chǎn)品、化工原料、稀土材料、藍(lán)景膜、厭氧材料、易氧化材料及不便于冷藏的珍貴食品，肉食蔬菜果品及中西藥品以及易潮濕的衣物床上用品等。

HAST可靠性試驗(yàn)機(jī)，高加速壽命試驗(yàn)箱被廣泛應(yīng)用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。當(dāng)HAST試驗(yàn)應(yīng)用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段時(shí),可以快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，特別是線路板,多層線路板,IC半導(dǎo)體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè), 測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。

HAST高壓老化壽命試驗(yàn)箱，高加速溫濕度機(jī)臺(tái)用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。通過(guò)溫度、濕度、大氣壓力條件下應(yīng)用于加速濕氣的滲透，可通過(guò)外部保護(hù)材料（塑封料或封口），或在外部保護(hù)材料與金屬傳導(dǎo)材料之間界面。它采用了嚴(yán)格的溫度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件會(huì)加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)。